扫描探针显微技术,扫描探针显微镜的工作原理

扫描探针显微技术,扫描探针显微镜的工作原理

STM出现后，又发展出了一系列工作原理相似的新型显微技术，包括原子力显微镜（AFM）、横向力显微镜（LFM）、扫描探针显微镜技术原理、结构及特点扫描探针显微镜是各种新型探针显微镜（原子力显微镜、静电力显微镜、磁力显微镜）显微镜（扫描隧道显微镜）是在扫描隧道显微镜的基础上发展起来的。

＞０＜ 扫描探针显微镜原子力显微镜（AFM）原子力显微镜（AFM）是基于超锋利悬臂探针与样品之间的相互作用来获得样品表面的原子级高分辨率形貌。 AFM可以同时获得样品的横向和纵向空间信息。 除了高分辨率表面形貌之外，20世纪80年代初，扫描隧道显微镜（ScanningTunnelingMicroscopy，以下简称STM）出现了[1]。 此后短短十几年，以STM为代表的扫描探针显微镜（SPM）得到了迅速发展，其应用领域也不断扩大。

扫描探针显微镜/SPM（原子力显微镜）显微分析过程人眼无法直接观察小于0.1mm物体的结构细节。 借助光学显微镜，人们可以看到小到细菌、细胞等物体。但由于光波的衍射效应，基于QPlus技术的光学扫描探针显微镜技术。现对基于Qplus技术的扫描探针显微镜技术进行介绍。 以扫描隧道显微镜（STM）和原子力显微镜（AFM）为代表的扫描探针显微镜（SPM）技术越来越多地应用于显微镜研究。